Rede de Plataformas Tecnológicas da FIOCRUZ

RPT07C - Microscopia Confocal e Eletrônica

ICC - Instituto Carlos Chagas /PR

A Plataforma de Microscopia Confocal e Eletrônica RPT07C é composta por quatro equipamentos principais. Um microscópio invertido (DMI6000B) associado a um software de deconvolução (Leica AF6000), que permite a aquisição de imagens widefield de contraste de fase e fluorescência, além de z-stacking. Um microscópio confocal (Leica Stellaris 8), utilizado para análise de preparados biológicos (vivos ou fixados) ou não biológicos por microscopia confocal de varredura a laser. Este equipamento possui laser de luz branca, com seleção contínua de qualquer faixa de excitação entre 485 e 685 nm, além de um laser de 405 nm. O dispositivo AOBS também oferece um sistema contínuo para seleção do espectro de emissão.  A plataforma possui também um microscópio eletrônico de varredura (Jeol JSM-6010 Plus-LA), que permite a análise da superfície de estruturas através da detecção de elétrons secundários e retroespalhados, além de possuir um detector de EDS para microanálise da composição química de amostras. E um microscópio eletrônico de transmissão (Jeol JEM-1400 Plus), que permite atingir uma voltagem de até 120 kV, utilizado para análise da ultraestrutura de amostras em cortes ultrafinos e aquisição de imagens de alta resolução e contraste. Além disso, a plataforma inclui o serviço de preparo de amostra para microscopia eletrônica, tanto de transmissão quanto de varredura.

Serviços oferecidos

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P05-005A : Uso do microscópio com operador Equipamento ou sistema: Microscópio de Fluorescência - Leica - AF6000 Paraná - ICC

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P05-006A : Preparo de amostra - Rotina Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Transmissão- Jeol - JEM-1400Plus Paraná - ICC

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P05-006C : Ultramicrotomia (pela equipe da plataforma) Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Transmissão- Jeol - JEM-1400Plus Paraná - ICC

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P05-006D : Preparo de amostra - Contrastação de grade Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Transmissão- Jeol - JEM-1400Plus Paraná - ICC

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P05-006F : Preparo de amostra - Contrastação negativa Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Transmissão- Jeol - JEM-1400Plus Paraná - ICC

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P05-006G : Uso do microscópio com operador Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Transmissão- Jeol - JEM-1400Plus Paraná - ICC

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P05-007D : Uso do microscópio com operador Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Varredura - Jeol - JSM-6010 Plus/LA Paraná - ICC

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P05-007A : Preparo de amostra - Rotina Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Varredura - Jeol - JSM-6010 Plus/LA Paraná - ICC

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P05-007B : Uso do ponto crítico (ciclo) Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Varredura - Jeol - JSM-6010 Plus/LA Paraná - ICC

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P05-007C : Uso do metalizador (ciclo) Equipamento ou sistema: Microscopia Eletrônica de Varredura - Jeol - JSM-6010 Plus/LA Paraná - ICC

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P05-039A : Uso do microscópio com operador Equipamento ou sistema: Microscópio Confocal - STELLARIS 8 Paraná - ICC

Nossa Equipe

Bruna Hilzendeger Marcon
Bruna Marcon
Responsável Técnico

Lia Carolina Almeida Soares de Medeiros Kuczera
Lia Kuczera
Consultor

Anny Robert
Anny Robert
Equipe Operacional

Beatriz Regina Bilk
Beatriz Bilk
Equipe Operacional

Eduardo Antônio Tusset Araújo
Eduardo Araújo
Equipe Operacional